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| 淋雨試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介與引用標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時(shí)間：2014-3-3 9 |
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淋雨試驗(yàn)設(shè)備是IP防護(hù)等級(jí)中的一種，屬IPX3-4降水/淋雨試驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)的IP防護(hù)等級(jí)都是按《GB 4208-2008 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)》，以下，為GB 2423.38-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R水試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)簡介及引用標(biāo)準(zhǔn)。
淋雨試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)制作的主題內(nèi)容與使用范圍：規(guī)定了滴水，沖水和浸水試驗(yàn)方法。試驗(yàn)的主要目的是考核電工電子產(chǎn)品外殼和密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和元件良好的工作性能，包括以自然條件為基礎(chǔ)的人工淋雨試驗(yàn)，但不包括有強(qiáng)風(fēng)速的降雨。本標(biāo)準(zhǔn)不考慮試驗(yàn)樣品的溫度與雨水溫度的溫度差作用（例如由壓力變化和熱沖擊）所引起的大量進(jìn)水, 淋雨試驗(yàn)設(shè)備的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運(yùn)輸或使用期間可能受到滴水，沖水和浸水影響，并可作為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的引用依據(jù)。
淋雨試驗(yàn)設(shè)備引用標(biāo)準(zhǔn)如下：
GB 2424.23 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則
GB 5170.38 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備
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